摘要: 兵器在恶劣环境下战术技术性能的迅速提高和电子信息技术和飞速发展，要求试验靶场具有相应的检测设备。特别是检测分析高速（Ｖ≥６Ｍａ）、小雷达反射截面积（σ≈０．１ｍ＾２）、超低空（Ｈ≥８）目标所需设备的电气性能指标非常高，一般技术手段难以完成任务，成像雷达由于其独特的高精度测量性能受到雷达界的高度重视。本文在分析关键技术后，进行了微波成像雷达工程仿真。结果表明，成像雷达能满足靶场的使用要求。